立式HAST 高温高压老化试验箱（半导体行业适用）
环境模拟试验箱
立式HAST 高温高压老化试验箱HAST高温高压老化试验箱是一种加速老化测试设备，可模拟高温、高湿及高压环境，用于评估电子元器件、半导体、微电子芯片等产品的可靠性与耐久性。该设备适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶及制药等行业产品的加速寿命试验，可在产品设计阶段快速暴露缺陷与薄弱环节。其应用范围涵盖线
立式HAST 高温高压老化试验箱
HAST高温高压老化试验箱是一种加速老化测试设备，可模拟高温、高湿及高压环境，用于评估电子元器件、半导体、微电子芯片等产品的可靠性与耐久性。
该设备适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶及制药等行业产品的加速寿命试验，可在产品设计阶段快速暴露缺陷与薄弱环节。其应用范围涵盖线路板、多层线路板、IC半导体、LCD、磁铁等产品的密封性能检测，可有效测试制品的耐压性与气密性。
产品特点：
采用进口耐高温电磁阀双路结构，在最大程度上降低了使用故障率。
独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。
门锁省力结构，解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。
试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.
超长效实验运转时间，长时间实验机台运转1000小时以上.
水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护.
tank耐压设计，箱体耐压力(150℃)2.65kg，符合水压测试4kg.
二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置.
安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮 .
偏压测试端子耐压可达3000V(选配）
USB导出历史记录数据，曲线.
基本参数：
| 内箱尺寸 | （∮260 mm×L400 mm）*2 圆型试验箱 |
测试方式 | 105.0~133.3℃/100%RH |
测试温度 | 110~140℃/85%RH |
温度范围 | 118.0~150.0℃/65%RH |
设定温度 | +100 ℃ ～ +140 ℃( 蒸气温度 ) |
湿度范围 | 65~100 %RH 蒸气湿度 |
湿度控制稳定度 | ±3%RH |
使用压力 | 1.2~2.89kg(含1atm) |
时间范围 | 0 Hr ～ 999 H |
加压时间 | 0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2 约 35 分 |
温度均匀度 | ±2℃ |
压力波动均匀度 | ±0.1Kg |
| 湿度分布均匀度 | ±5%RH |
温度显示精度 | 0.1℃ |
湿度显示精度 | 100%RH |
压力显示精度 | 0.1 Kg / cm2 |
适用标准：
GB/T2423.40-1997
IEC60068-2-66-1994
JESD22-A100
JESD22-A101
JESD22-A102
JESD22-A108
JESD22-A110
JESD22-A118
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